Titre : | TOEFL, TOEIC, GMAT : l'ABC des tests US par QCM, guide pratique de préparation |
Auteurs : | Jean-Pierre Chartier |
Type de document : | texte imprimé |
Editeur : | Paris : Vuibert, 1998 |
Collection : | Vuibert supérieur |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7117-8939-9 |
Format : | 261 p. / 24 x 18 cm |
Langues: | Français |
Index. décimale : | L1 La |
Mots-clés: | Problèmes et exercices ; Examens |
Résumé : | Un guide d'accompagnement du candidat aux divers stades et dans les différents domaines de sa progression et conçu dans l'esprit des stages de préparation organisés par l'Université Paris-Dauphine, pour obtenir les meilleurs scores qui sont proposés dans les épreuves de tests QCM américains. |
Exemplaires (1)
Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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L1/32 | Livre | Bibliothèque de l'Ecole des Hautes Etudes Commerciales | Livre Français | Disponible |